上海精科 紫外分光光度計(jì) UV-757CRT

附電腦、打印機(jī)

UV757系列紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)能在紫外、可見(jiàn)光譜區(qū)域內(nèi)對(duì)樣品物質(zhì)作定性和定量的分析。主機(jī)功能：
采用微機(jī)測(cè)量系統(tǒng)，τ-A轉(zhuǎn)換精確，自動(dòng)調(diào)整0%（τ）和調(diào)整*（τ），具有GOTOλ，自動(dòng)8聯(lián)樣品架，自動(dòng)扣除比色皿誤差，濃度多點(diǎn)標(biāo)定，斜率和截距設(shè)置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機(jī)，另行選配）。

聯(lián)機(jī)功能：
通過(guò)RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長(zhǎng)掃描，時(shí)間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長(zhǎng)測(cè)試，并大大擴(kuò)展測(cè)試功能（除主機(jī)功能外）。
上海精科 紫外分光光度計(jì) UV-757CRT

技術(shù)指標(biāo)：
◆波長(zhǎng)范圍：200nm～1000nm
◆光源：鎢鹵素?zé)?2V20W（進(jìn)口） DD2.5氘燈（進(jìn)口）
◆接收元件：光電池
◆波長(zhǎng)zui大允許誤差：±0.5nm
◆波長(zhǎng)重復(fù)性：≤0.2nm
◆光譜帶寬：2nm
◆雜散光：≤0.3%（τ）（在220nm以Nal測(cè)定和340nm處以NaNO2測(cè)定）
◆透射比測(cè)量范圍：0.0%（τ）～200.0% (τ）
◆吸光度測(cè)量范圍：-0.301（A）～4.000(A)
◆透射比zui大允許誤差：±0.5%（τ）
◆透射比重復(fù)性：≤0.2%（τ）
◆噪聲：*噪聲≤0.5%（τ） 0%噪聲≤0.2%(τ)
◆穩(wěn)定性：≤0.004A/30min

其它：
◆電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz

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